廣州鴻華智能裝備有限公司
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粗糙度和輪廓模塊化測量系統Waveline W612
發布時間：2023.01.12 閱讀量：1503
- 所屬分類：表面粗糙度/輪廓測量系統
- 品牌：德國-業納JENOPTIK
- 型號：Waveline W612
- 發布日期：2023/01/12
Waveline產品線為客戶提供廣泛的表面評價方案，包括便攜式，工作站式。可手動測量，也可實現全自動測量，包括粗糙度測量，輪廓測量，粗糙度輪廓一體式測量，扭紋測量，缸孔表面測量，也可以根據客戶的需求提供定制方案。
Waveline 612
Waveline W612測量站配有Digiscan接觸式測針，用于輪廓測量和附件。
產品亮點
- 友好的測量評價界面
- 機械系統穩定，測量可靠性高
- 靈活的調節功能，使測針輕松達到測量位置
- 快速更換適配器，可快速更換探頭系統，只需簡單的設置
- 同時采用模塊化設計，能根據您的要求提供適合精度，并且后續可以擴展配置
測針
- 粗糙度和輪廓的接觸式測針
- 高分辨率的粗糙度輪廓傳感器
- 成熟并精準的測臂與測針技術
- 所有測針均配有磁吸功能，可快速更換測針
- 所有輪廓測針均配有 RFID 自動識別芯片，軟件自動創建測針信息，便于測針更換與校準
- 由于創新的進給系統，測量點可自由進入
Details 細節展示
手動調整高度，以實現探頭的精確定位
多樣化的安裝選擇：可選底板，用于安裝在帶有T型槽的大理石上
粗糙度探頭系統TKU400帶有快速更換適配器，可快速更換
Software Evovis測量和評估軟件
Evovis測量和評估軟件為粗糙度和輪廓測量提供統一的操作界面，操作邏輯清晰并配有豐富的輔助功能，可根據需求設計獨特的測量任務。
- 現代化的用戶界面，只需簡單培訓就能安全操作
- 單獨、自由地設計測試計劃和協議，并自動歸檔
- 根據ISO 21920、ISO 4287以及其他ISO和國家標準的所有常見表面參數
